Augstas izšķirtspējas skenējošais elektronu un jonu kūļa mikroskops (SEM/FIB)

Paziņojums par līgumu (2020-01-27)
Objekts
Iepirkuma darbības joma
Nosaukums: Fizikālo rādītāju pārbaudes instrumenti
Atsauces numurs: LU CFI 2020/2/ERAF
Īss apraksts:
“Augstas izšķirtspējas skenējošais elektronu un jonu kūļa mikroskops (SEM/FIB).”
Paziņojuma metadati
Oriģinālvaloda: latviešu 🗣️
Dokumenta veids: Paziņojums par līgumu
Līguma raksturs: Piegādes
Regula: Eiropas Savienība, piedaloties GPA valstīm
Kopējā publiskā iepirkuma vārdnīca (CPV)
Kods: Fizikālo rādītāju pārbaudes instrumenti 📦
Papildu CPV kods: Fizikālo rādītāju pārbaudes instrumenti 📦
Veiktspējas vieta
NUTS reģions: Latvija 🏙️

Procedūra
Procedūras veids: Atklāta procedūra
Piedāvājuma veids: Piedāvājums visām daļām
Piešķiršanas kritēriji
Zemākā cena

Līgumslēdzēja iestāde
Identitāte
Valsts: Latvija 🇱🇻
Līgumslēdzējas iestādes veids: Ministerija ar kuri nors kita nacionalinės ar federacinės valdžios institucija
Līgumslēdzējas iestādes nosaukums: Latvijas Universitātes Cietvielu fizikas institūts
Pasta adrese: Ķengaraga iela 8
Pasta indekss: LV-1063
Pasta pilsēta: Rīga
Kontakti
Interneta adrese: http://www.cfi.lu.lv 🌏
E-pasts: ievalr@cfi.lu.lv 📧
Tālrunis: +371 29141994 📞
Fakss: +371 67132778 📠
Dokumentu URL: https://www.eis.gov.lv/EKEIS/Supplier/Procurement/32609 🌏
Dalības URL: https://www.eis.gov.lv/EKEIS/Supplier/ProcurementProposals/32609 🌏

Atsauce
Datumi
Nosūtīšanas datums: 2020-01-27 📅
Iesniegšanas termiņš: 2020-03-16 📅
Publicēšanas datums: 2020-01-31 📅
Identifikatori
Paziņojuma numurs: 2020/S 022-047473
OV-S numurs: 22
Avots: OJS 2020/S 022-047473 (2020-01-27)